小麦玉米不完善率检/测仪 型号:ZXBWSL-XMYM

小麦玉米不完善率检/测仪/不完善率检/测仪 型号:ZXBWSL-XMYM库号：M374541   
检/测品种：白麦、红麦、混麦、玉米
检/测速度：＞200粒/min，检/测时间小于100秒（50g）;
重复性：产品重复性满|足GB/T 6379.1;
台间差：＜1%。GB/T 5494-2019
检/测项目：生芽粒、破|损|粒、病|斑|粒、虫|蚀|粒、生|霉|粒等
图像度：单粒小麦图像≥100×100像素；单粒玉米图像≥300×300像素
检/测方法：逐粒检/测，360°图像
检/测：自|动|计算样本及各种不完善粒的数量与重量
云|端|数据：数据可上传云平台，云端实|时查看
供电：AC220V
温度：15-40℃
湿度：≤80%
打印：内置WEI型打印机
配置：主机、耗材除标配外另配无线键鼠1套。





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